Università Roma Tre

Cenni storici di microscopia, concetto di risoluzione ed il limite di Rayleigh,panoramica sulle tecniche di microscopia ed utilizzo nei diversi ambiti di ricerca.

Fondamenti di microscopia ottica, microscopia in riflessione, metallografia,microscopia in trasmissione, l�uso della luce polarizzata.

Principi di funzionamento della microscopia elettronica, SEM, TEM, EDX. Utilizzo del SEM: rilevazione di elettroni secondari e retrodiffusi, cattura e analisi morfometriche delle immagini.

Principi di funzionamento e componenti di un microscopio a scansione di sonda, la microscopia a forza atomica in contatto, la microscopia a forza atomica in non-contatto. Tecniche a scansione secondarie. Risoluzione ed artefatti.

Introduzione all analisi di immagine 2D e 3D, miglioramento della qualità delle immagini con e senza l'utilizzo di kernel, segmentazione, binarizzazione e analisi quantitativa di immagine con software open-access.

dispense fornite a lezione realizzate dal docente sulla base delle slide presentate durante il corso

Fornire i fondamenti teorici e la pratica sperimentale delle tecniche microscopiche con particolare riferimento alla microscopia ottica, elettronica e a sonda.

dispense fornite a lezione