Università Roma Tre

DURANTE IL CORSO VERRANNO PRESENTATE DUE TECNICHE DI CARATTERIZZAZIONE DELLE PROPRIETÀ SUPERFICIALI DELLA MATERIA CONDENSATA: LA FOTOEMISSIONE DA RAGGI X E LA MICROSCOPIA A FORZA ATOMICA. VERRÀ INIZIALMENTE PRESENTATA IN AULA UNA INTRODUZIONE TEORICA ALLE DUE TECNICHE SPERIMENTALI. LE LEZIONI FRONTALI AVRANNO COME TEMA: MICROSCOPIA OTTICA E MICROSCOPIA A SONDA; STM; AFM IN CONTATTO; AFM IN NON CONTATTO; TECNICHE SPM SECONDARIE; RISOLUZIONE E ARTEFATTI; ANALISI IMMAGINI SPM; VUOTO E SUPERFICI; FONDAMENTI DI SPETTROSCOPIA A RAGGI X; IL MODELLO A TRE PASSI; SORGENTI X; ANALIZZATORI DI ELETTRONI; RIVELAZIONE DI ELETTRONI; ACQUISIZIONE ED ANALISI DATI XPS. SUCCESSIVAMENTE VERRÀ SVOLTA L'ATTIVITÀ DI LABORATORIO VERA E PROPRIA, CHE VERRÀ CONDOTTA PRESSO IL LABORATORIO DI FISICA E TECNOLOGIA DEI SEMICONDUTTORI.

(CARDONA M., LEY L. )PHOTOEMISSION IN SOLIDS TOPICS IN APPLIED PHYSICS VOL. 26 [SPRINGER VERLAG, 1978 ]
(DISPENSE DEL CORSO)DISPENSE DEL CORSO []
(BRASDEN B.H. JOACHAIN C.J. ) “PHYSICS OF ATOMS AND MOLECULES” [LONGMAN, LONDON AND NEW YORK.]
(L.V. MIRONOV)FUNDAMENTALS OF SPM [NIZHNIY NOVGOROD]